测定装置及测定方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202480020091.7

申请日：

2024-03-13

公开(公告)号：

CN120858267A

公开(公告)日：

2025-10-28

发明(设计)人：

宫崎直希

申请人：

株式会社东京精密

申请人地址：

日本

IPC主分类号：

G01C3/06

IPC分类号：

G01B11/00

代理机构：

中科专利商标代理有限责任公司 11021

代理人：

肖茂深

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-10-28	公开	公开
2025-11-14	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01C 3/06申请日:20240313

共 50 条

[1]

测定装置及测定方法 [P].

后藤旬 ;

稻叶拓哉 ;

前田悠佑 .

日本专利 :CN118922743A ,2024-11-08

[2]

测定装置及测定装置的动作方法 [P].

仓田雄二 ;

福田一生 ;

佐藤义治 ;

吴凯 .

中国专利 :CN105891458B ,2016-08-24

[3]

测定装置及测定装置的制造方法 [P].

出口博久 ;

伊豆川洸司 ;

小石川直生 ;

设乐美月 ;

山﨑敦之 ;

大长敬直 ;

樱井一利 .

日本专利 :CN118556192A ,2024-08-27

[4]

测定装置及测定方法 [P].

长井秀行 ;

寺岛隆幸 .

中国专利 :CN109946524B ,2019-06-28

[5]

测定装置及测定方法 [P].

胜木幸治 .

中国专利 :CN102178537A ,2011-09-14

[6]

测定装置及测定方法 [P].

一山清隆 .

日本专利 :CN115333981B ,2024-03-22

[7]

测定方法及测定装置 [P].

能势智之 ;

三井田佑辅 ;

长冈加奈子 ;

成定宪志 ;

瓦伦·纳姆比加里 .

中国专利 :CN109856137A ,2019-06-07

[8]

测定装置及测定方法 [P].

三崎裕司 .

中国专利 :CN103248437A ,2013-08-14

[9]

测定装置及测定方法 [P].

须田信一郎 ;

本田圭 .

中国专利 :CN114375176A ,2022-04-19

[10]

测定装置及测定方法 [P].

小林俊也 ;

中嶋大 ;

西纳幸伸 ;

林正己 ;

西富久雄 ;

山本幸宏 ;

大西琢也 .

中国专利 :CN103210315A ,2013-07-17

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