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一种利用偏振干涉测量二次谐波相位的显微成像系统

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202510931806.0
申请日：
2025-07-07
公开(公告)号：
CN120801303A
公开(公告)日：
2025-10-17
发明(设计)人：
张文凯 赵璇 刘奕昕
申请人：
北京师范大学
申请人地址：
100875 北京市海淀区新街口外大街19号
IPC主分类号：
G01N21/84
IPC分类号：
G01N21/21 G01N21/01
代理机构：
代理人：
法律状态：
公开
国省代码：
北京市 市辖区
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-10-17 公开 公开
2025-11-04 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G01N 21/84申请日:20250707
共 50 条
[1]
基于贝塞尔光束脉冲整形的二次谐波显微成像系统 [P]. 
张贞 ;
董斌 ;
薛曼 ;
白锐朋 ;
郭源 ;
刘鸣华 .
中国专利 :CN107764781A ,2018-03-06
[2]
基于贝塞尔光束脉冲整形的二次谐波显微成像系统 [P]. 
张贞 ;
董斌 ;
薛曼 ;
白锐朋 ;
郭源 ;
刘鸣华 .
中国专利 :CN207689370U ,2018-08-03
[3]
一种基于二次谐波偏振成像的纤维取向超分辨解析方法 [P]. 
屈军乐 ;
张勇 ;
林丹樱 ;
张晨爽 ;
于斌 .
中国专利 :CN117571707A ,2024-02-20
[4]
基于二次谐波的超分辨显微成像系统及成像方法 [P]. 
严伟 ;
王璐玮 ;
郭勇 ;
朱殷铷 ;
周汉秋 ;
屈军乐 .
中国专利 :CN114895450A ,2022-08-12
[5]
用于二次谐波偏振成像分析的多偏振模式双光子显微镜 [P]. 
韩侠辉 ;
陈建新 ;
李连煌 ;
郑莉琴 .
中国专利 :CN117331206A ,2024-01-02
[6]
一种切伦科夫二次谐波显微镜成像系统 [P]. 
徐天翔 ;
赵宇浩 ;
王韵泽 ;
曾静 ;
赵如薇 ;
盛艳 .
中国专利 :CN220509208U ,2024-02-20
[7]
一种两步相移干涉相位显微一次成像系统及方法 [P]. 
徐媛媛 ;
季颖 ;
王亚伟 .
中国专利 :CN103336419B ,2013-10-02
[8]
激光扫描式二次谐波显微系统及二次谐波测试方法 [P]. 
李千 ;
李为 .
中国专利 :CN115112573B ,2025-01-24
[9]
激光扫描式二次谐波显微系统及二次谐波测试方法 [P]. 
李千 ;
李为 .
中国专利 :CN115112573A ,2022-09-27
[10]
一种超分辨微分干涉相衬显微成像方法 [P]. 
曾绍群 ;
陈建玲 ;
吕晓华 .
中国专利 :CN102998789B ,2013-03-27
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