用于嵌入式设备的自动化测试方法、系统及存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202511166559.6
申请日
2025-08-20
公开(公告)号
CN121070712A
公开(公告)日
2025-12-05
发明(设计)人
张剑
申请人
富士胶片实业发展(上海)有限公司
申请人地址
200131 上海市浦东新区自由贸易试验区日京路79号8层D单元
IPC主分类号
G06F11/22
IPC分类号
G06F11/3668
代理机构
上海专利商标事务所有限公司 31100
代理人
徐伟
法律状态
实质审查的生效
国省代码
上海市
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共 50 条
[1]
一种嵌入式设备自动化测试方法、装置、系统及存储介质 [P]. 
陈海滨 .
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[2]
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张立广 ;
黄磊 ;
张洋 ;
唐坤 ;
徐斌 ;
淡建群 .
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[3]
嵌入式系统的启动方法、装置、嵌入式设备及存储介质 [P]. 
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[4]
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王闪闪 .
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[5]
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[6]
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[7]
自动化测试方法、测试设备、自动化测试系统及存储介质 [P]. 
朱渊 .
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[8]
嵌入式设备故障恢复方法、装置、嵌入式设备及存储介质 [P]. 
田帅坡 .
中国专利 :CN111625390B ,2024-03-26
[9]
一种嵌入式设备的自动化测试方法及系统 [P]. 
任文龙 ;
董洋 ;
温奎 ;
陈路 ;
程旗 .
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[10]
嵌入式设备的启动方法、装置、嵌入式设备及存储介质 [P]. 
徐春强 .
中国专利 :CN114020342B ,2022-02-08