超声波测厚仪用校准试块装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202520010552.4

申请日：

2025-01-03

公开(公告)号：

CN223596831U

公开(公告)日：

2025-11-25

发明(设计)人：

张晓东

申请人：

深圳市兴安科检测技术有限公司

申请人地址：

518000 广东省深圳市宝安区西乡街道南昌社区兴裕路13号泳程科研大厦701、702

IPC主分类号：

G01B17/02

IPC分类号：

代理机构：

深圳知一慧众知识产权代理有限公司 44973

代理人：

韩剑飞

法律状态：

授权

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-11-25	授权	授权

共 50 条

[1]

超声波测厚仪用校准试块装置 [P].

杨伟东 ;

王体云 ;

李亮 ;

李喆 ;

包艳蓉 ;

马平 .

中国专利 :CN216448837U ,2022-05-06

[2]

超声波测厚仪 [P].

王宁 ;

陈亚利 ;

张会会 .

中国专利 :CN207007121U ,2018-02-13

[3]

超声波测厚仪 [P].

吕伟 ;

管峰 .

中国专利 :CN209069230U ,2019-07-05

[4]

超声波测厚仪 [P].

刘晶 ;

周列 .

中国专利 :CN206593613U ,2017-10-27

[5]

超声波测厚仪 [P].

李全 ;

刘浩 ;

姚益 ;

孙益伟 ;

孙世波 .

中国专利 :CN208060709U ,2018-11-06

[6]

超声波测厚仪 [P].

付中强 ;

张翠云 ;

付仁长 .

中国专利 :CN207147436U ,2018-03-27

[7]

超声波测厚仪 [P].

国江 .

中国专利 :CN205120064U ,2016-03-30

[8]

超声波测厚仪 [P].

王健 .

中国专利 :CN203203576U ,2013-09-18

[9]

超声波测厚仪 [P].

黄玲 .

中国专利 :CN211824313U ,2020-10-30

[10]

超声波测厚仪 [P].

彭谊辉 ;

王智勇 .

中国专利 :CN204142209U ,2015-02-04

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