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测试方法、装置、存储介质和程序产品

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202511121574.9
申请日：
2025-08-11
公开(公告)号：
CN121029520A
公开(公告)日：
2025-11-28
发明(设计)人：
叶相相
申请人：
杭州长川科技股份有限公司
申请人地址：
310056 浙江省杭州市滨江区聚才路410号
IPC主分类号：
G06F11/26
IPC分类号：
G06F9/30 G06F12/0877
代理机构：
北京思源智汇知识产权代理有限公司 11657
代理人：
刘雅静
法律状态：
公开
国省代码：
浙江省 杭州市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-11-28 公开 公开
2025-12-16 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/26申请日:20250811
共 50 条
[1]
测试方法、装置、设备、存储介质和程序产品 [P]. 
李富 ;
张倩妮 .
中国专利 :CN118071503A ,2024-05-24
[2]
测试向量的处理方法和装置、电子装置、存储介质和程序产品 [P]. 
梅家平 .
中国专利 :CN121173309A ,2025-12-19
[3]
并行测试方法、装置、设备、存储介质和程序产品 [P]. 
刘铁 ;
沈志嵘 ;
魏俊红 ;
曾旺 ;
毛冬冬 .
中国专利 :CN118779240A ,2024-10-15
[4]
性能测试方法、装置、设备、存储介质和程序产品 [P]. 
张欢 ;
王卫钢 ;
郭庆 ;
丁磊 ;
王学智 .
中国专利 :CN116614409B ,2025-12-02
[5]
程序测试方法、装置、设备、存储介质和程序产品 [P]. 
朱佳颖 ;
黄震人 ;
王炳辉 ;
顾佳艳 .
中国专利 :CN118349464A ,2024-07-16
[6]
硬盘测试方法、设备、存储介质和程序产品 [P]. 
孙海涛 ;
刘勇 ;
栾玉雪 .
中国专利 :CN120560918B ,2025-10-17
[7]
硬盘测试方法、设备、存储介质和程序产品 [P]. 
孙海涛 ;
刘勇 ;
栾玉雪 .
中国专利 :CN120560918A ,2025-08-29
[8]
测试方法、测试装置、存储介质和程序产品 [P]. 
杨远君 ;
任艳 ;
欧月华 .
中国专利 :CN118408718A ,2024-07-30
[9]
测试方法、装置、设备、存储介质和程序产品 [P]. 
吉帅 .
中国专利 :CN114915573A ,2022-08-16
[10]
测试方法、装置、设备、介质和程序产品 [P]. 
胡曌云 ;
王轶凡 ;
陈灿 .
中国专利 :CN117806977A ,2024-04-02
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