一种测试芯片供电可靠性的电路

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202422972485.2

申请日：

2024-12-03

公开(公告)号：

CN223597863U

公开(公告)日：

2025-11-25

发明(设计)人：

齐孟超李立张芳汪标

申请人：

兆讯恒达科技股份有限公司

申请人地址：

100080 北京市海淀区苏州街20号院2号楼四层北侧

IPC主分类号：

G01R31/40

IPC分类号：

G01R1/04 G05B19/042

代理机构：

北京汲智翼成知识产权代理事务所(普通合伙) 11381

代理人：

贾兴昌;陈曦

法律状态：

授权

国省代码：

北京市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-11-25	授权	授权

共 50 条

[1]

一种测试芯片供电电源可靠性的装置 [P].

洪献珍 .

中国专利 :CN203519804U ,2014-04-02

[2]

芯片可靠性测试装置及芯片可靠性测试方法 [P].

董攀 ;

王延斌 .

中国专利 :CN118671552A ,2024-09-20

[3]

一种高可靠性的通讯电源电路 [P].

杨芹 .

中国专利 :CN215120523U ,2021-12-10

[4]

芯片的可靠性测试系统 [P].

于东明 ;

李超伟 ;

郜其鑫 ;

张学磊 ;

钟明琛 ;

陈燕宁 .

中国专利 :CN110501632A ,2019-11-26

[5]

一种可靠性试验电路 [P].

艾珂 .

中国专利 :CN202649261U ,2013-01-02

[6]

一种提高供电可靠性的电路 [P].

张华建 ;

葛良安 ;

华桂潮 .

中国专利 :CN103166448A ,2013-06-19

[7]

一种提高电梯供电可靠性的岸桥供电电路 [P].

刘源 ;

石学林 ;

焦铭 ;

白志强 ;

钱世君 ;

于萍 .

中国专利 :CN203537051U ,2014-04-09

[8]

一种芯片可靠性测试平台 [P].

胥亚军 ;

夏泳 .

中国专利 :CN222689876U ,2025-03-28

[9]

测试芯片电源可靠性的装置 [P].

刘婷婷 .

中国专利 :CN204945343U ,2016-01-06

[10]

一种固态硬盘的供电可靠性测试装置 [P].

庄晓鹏 .

中国专利 :CN221960712U ,2024-11-05

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