软件缺陷处理方法、电子设备、存储介质和程序产品

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202511407137.3

申请日：

2025-09-29

公开(公告)号：

CN120892321B

公开(公告)日：

2025-12-05

发明(设计)人：

冯忠堂路明远刘亭

申请人：

苏州元脑智能科技有限公司

申请人地址：

215000 江苏省苏州市吴中经济开发区综保区经一路1号8幢

IPC主分类号：

G06F11/362

IPC分类号：

G06F11/3668

代理机构：

北京市万慧达律师事务所 11111

代理人：

李佳桁

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-11-04	公开	公开
2025-12-05	授权	授权
2025-11-21	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/362申请日:20250929

共 50 条

[1]

软件缺陷处理方法、电子设备、存储介质和程序产品 [P].

冯忠堂 ;

路明远 ;

刘亭 .

中国专利 :CN120892321A ,2025-11-04

[2]

软件缺陷的处理方法、电子设备、存储介质和程序产品 [P].

王润哲 ;

石晓海 ;

马涛 .

中国专利 :CN119311560A ,2025-01-14

[3]

软件缺陷修复的方法、装置、电子设备、存储介质及程序产品 [P].

朱旻 ;

蔡景耀 ;

蔡欢欢 .

中国专利 :CN119003333A ,2024-11-22

[4]

软件缺陷级别划分方法、装置、存储介质、电子设备及程序 [P].

马超 .

中国专利 :CN118606182A ,2024-09-06

[5]

缺陷处理方法、装置、电子设备、存储介质和程序产品 [P].

牛章玉 ;

吴永宏 ;

刘亚琼 ;

刘超 ;

牛丽 ;

吴晓琳 ;

程宇航 ;

吕小光 ;

沈平 ;

段文生 ;

韩维东 ;

田小卫 ;

杨舒越 .

中国专利 :CN120785293A ,2025-10-14

[6]

软件缺陷等级分类方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

于林生 .

中国专利 :CN117688448A ,2024-03-12

[7]

软件缺陷预测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

杨晓杏 ;

梁立新 ;

李艺鸿 .

中国专利 :CN113656284A ,2021-11-16

[8]

软件缺陷的信息展示方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

何颖 .

中国专利 :CN111240963B ,2024-04-26

[9]

软件缺陷的信息展示方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

何颖 .

中国专利 :CN111240963A ,2020-06-05

[10]

软件缺陷定位方法、装置、设备、存储介质及程序产品 [P].

蒋超群 ;

夏振华 ;

刘力华 ;

严倩羽 ;

潘庆 .

中国专利 :CN119441012B ,2025-07-22

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