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基于太赫兹合成孔径成像技术的涂层厚度检测系统及方法

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202510615992.7
申请日：
2025-05-14
公开(公告)号：
CN120506890B
公开(公告)日：
2025-12-02
发明(设计)人：
冯辉 武帅
申请人：
中国科学技术大学
申请人地址：
230026 安徽省合肥市金寨路96号
IPC主分类号：
G01B11/06
IPC分类号：
G01B15/02
代理机构：
安徽知问律师事务所 34134
代理人：
刘传旭
法律状态：
公开
国省代码：
安徽省 六安市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-08-19 公开 公开
2025-12-02 授权 授权
2025-09-05 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G01B 11/06申请日:20250514
共 50 条
[1]
基于太赫兹合成孔径成像技术的涂层厚度检测系统及方法 [P]. 
冯辉 ;
武帅 .
中国专利 :CN120506890A ,2025-08-19
[2]
一种连续太赫兹波合成孔径成像系统及方法 [P]. 
王云新 ;
朱江磊 ;
赵洁 ;
王大勇 ;
戎路 ;
林述峰 .
中国专利 :CN114280055A ,2022-04-05
[3]
一种连续太赫兹波合成孔径成像系统及方法 [P]. 
王云新 ;
朱江磊 ;
赵洁 ;
王大勇 ;
戎路 ;
林述峰 .
中国专利 :CN114280055B ,2024-02-23
[4]
基于太赫兹的涂层厚度检测方法和装置 [P]. 
刘伟 ;
刘德峰 ;
于淼 ;
杨超 ;
高云端 .
中国专利 :CN111751314A ,2020-10-09
[5]
一种基于太赫兹的涂层厚度检测方法及系统 [P]. 
张逸竹 ;
曲秋红 ;
何明霞 ;
张为 .
中国专利 :CN118089558B ,2024-09-06
[6]
一种基于太赫兹的涂层厚度检测方法及系统 [P]. 
张逸竹 ;
曲秋红 ;
何明霞 ;
张为 .
中国专利 :CN118089558A ,2024-05-28
[7]
一种基于太赫兹调频连续波合成孔径成像的无损检测系统及其使用方法 [P]. 
周俊 ;
丁臻 ;
钱佳佳 ;
刘策含 ;
梁华杰 ;
邹林 ;
张雅鑫 ;
杨梓强 .
中国专利 :CN117554320A ,2024-02-13
[8]
一种脉冲太赫兹波稀疏布阵合成孔径成像设备及成像系统 [P]. 
冯辉 ;
武帅 .
中国专利 :CN118962722B ,2025-02-07
[9]
一种脉冲太赫兹波稀疏布阵合成孔径成像设备及成像系统 [P]. 
冯辉 ;
武帅 .
中国专利 :CN118962722A ,2024-11-15
[10]
基于语义修补的合成孔径成像方法 [P]. 
裴炤 ;
金敏 ;
张艳宁 ;
马苗 ;
郭敏 ;
武杰 ;
杨红红 .
中国专利 :CN111523411A ,2020-08-11
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