测试电路、自动化测试系统

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202520010567.0
申请日
2025-01-03
公开(公告)号
CN223652276U
公开(公告)日
2025-12-09
发明(设计)人
孙宏宇 张树民
申请人
智道网联科技(深圳)有限公司
申请人地址
518057 广东省深圳市南山区粤海街道麻岭社区科研路9号比克科技大厦1001-D
IPC主分类号
H04B17/15
IPC分类号
H04B17/29 H04W4/48
代理机构
北京市隆安律师事务所 11323
代理人
权鲜枝;唐海力
法律状态
授权
国省代码
广东省 深圳市
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共 50 条
[1]
自动化测试方法、测试设备、自动化测试系统及存储介质 [P]. 
朱渊 .
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自动化测试系统及其测试方法 [P]. 
卢喜玲 ;
何雷 .
中国专利 :CN120011233A ,2025-05-16
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用于集成电路装置的自动化测试系统及自动化测试方法 [P]. 
李昭昆 ;
萧智翔 ;
于承恩 .
美国专利 :CN117368684A ,2024-01-09
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磁卡解码电路的自动化测试系统 [P]. 
郑云斌 ;
曹小苏 ;
苏龙 .
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自动化测试系统及自动化测试方法 [P]. 
陈飞腾 .
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自动化测试系统及自动化测试方法 [P]. 
周波 ;
潘奎宇 ;
邱晓纯 ;
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自动化测试系统和自动化测试方法 [P]. 
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自动化测试系统与自动化测试方法 [P]. 
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