一种大口径光学成像系统次镜高精度定标方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202311207470.0
申请日
2023-09-19
公开(公告)号
CN117249975B
公开(公告)日
2025-11-25
发明(设计)人
聂婷 黄良 李明轩 袁航飞 吕恒毅 韩诚山 李国宁
申请人
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请人地址
130033 吉林省长春市东南湖大路3888号
IPC主分类号
G01M11/02
IPC分类号
代理机构
长春众邦菁华知识产权代理有限公司 22214
代理人
张伟
法律状态
授权
国省代码
北京市
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共 50 条
[1]
大口径光学成像系统成像质量测量装置及测量方法 [P]. 
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陈金宝 ;
刘文广 ;
周琼 ;
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中国专利 :CN118670691A ,2024-09-20
[2]
大口径光学成像系统成像质量测量装置及测量方法 [P]. 
王彦 ;
陈金宝 ;
刘文广 ;
周琼 ;
张汉伟 ;
刘鹏飞 ;
张丹 .
中国专利 :CN118670691B ,2024-11-05
[3]
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[4]
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[5]
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[7]
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[8]
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[9]
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[10]
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