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一种基于机器视觉的液晶屏Mura缺陷量化评估方法及系统

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202511196987.3
申请日：
2025-08-26
公开(公告)号：
CN120747060B
公开(公告)日：
2025-12-05
发明(设计)人：
齐斌斌 韦文勇 何栢根 何海生
申请人：
深圳市创元微电子科技有限公司
申请人地址：
518000 广东省深圳市龙华区观湖街道鹭湖社区观盛五路1号4栋日海综合楼302
IPC主分类号：
G06T7/00
IPC分类号：
G06V10/54 G06T5/70 G06T7/155
代理机构：
深圳市中科专匠知识产权代理事务所(普通合伙) 441096
代理人：
吴志伟;尹益群
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
广东省 深圳市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-10-24 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20250826
2025-12-05 授权 授权
2025-10-03 公开 公开
共 50 条
[1]
一种基于机器视觉的液晶屏Mura缺陷量化评估方法及系统 [P]. 
齐斌斌 ;
韦文勇 ;
何栢根 ;
何海生 .
中国专利 :CN120747060A ,2025-10-03
[2]
一种液晶屏Mura缺陷检测方法 [P]. 
林志阳 ;
王世锐 ;
黄杰鸿 ;
康丹玲 .
中国专利 :CN118050922A ,2024-05-17
[3]
一种基于机器视觉的LCD液晶屏缺陷检测方法及系统 [P]. 
刘宇良 ;
刘绪芳 ;
刘鑫 ;
刘健峰 ;
李旭 ;
张华 .
中国专利 :CN118583455A ,2024-09-03
[4]
一种基于机器视觉的LCD液晶屏缺陷检测方法及系统 [P]. 
刘宇良 ;
刘绪芳 ;
刘鑫 ;
刘健峰 ;
李旭 ;
张华 .
中国专利 :CN118583455B ,2024-10-29
[5]
基于机器视觉的液晶屏缺陷检测方法、系统及存储介质 [P]. 
王柳清 .
中国专利 :CN119086020B ,2025-04-11
[6]
基于机器视觉的液晶屏缺陷检测方法、系统及存储介质 [P]. 
王柳清 .
中国专利 :CN119086020A ,2024-12-06
[7]
一种基于机器视觉的Mura缺陷检测方法及系统 [P]. 
钱基德 ;
钱基业 ;
陈斌 ;
王佐才 ;
陈刚 ;
吴强 ;
李科 ;
张衡 .
中国专利 :CN107678192A ,2018-02-09
[8]
基于机器视觉的段码液晶屏缺陷检测方法 [P]. 
费敏锐 ;
孙晖 ;
周文举 ;
周阳 .
中国专利 :CN113344872A ,2021-09-03
[9]
一种基于机器视觉系统的液晶屏检测方法 [P]. 
熊志勇 ;
张佳 ;
叶浩 ;
刘心龙 ;
刘亮 ;
王星泽 .
中国专利 :CN110262092A ,2019-09-20
[10]
基于机器视觉的大尺寸液晶屏缺陷检测方法 [P]. 
康波 ;
李云霞 ;
朱恒川 ;
杨曦 ;
杨丽萍 .
中国专利 :CN108760767A ,2018-11-06
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