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位相特性測定器、それを備えた信号発生装置および信号解析装置、ならびに位相特性測定方法[ja]
被引:0
申请号
:
JP20230209579
申请日
:
2023-12-12
公开(公告)号
:
JP7785056B2
公开(公告)日
:
2025-12-12
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G01R23/173
IPC分类号
:
G01R25/04
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
位相差測定装置および位相差測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6994881B2
,2022-02-04
[2]
位相差測定装置および位相差測定方法[ja]
[P].
KISHIMOTO RYO
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
SCREEN HOLDINGS CO LTD
SCREEN HOLDINGS CO LTD
KISHIMOTO RYO
.
日本专利
:JP2024063855A
,2024-05-14
[3]
位相測定装置及び位相測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6259879B1
,2018-01-10
[4]
位相測定方法及び信号処理装置[ja]
[P].
日本专利
:JP7111045B2
,2022-08-02
[5]
位相測定方法及び信号処理装置[ja]
[P].
日本专利
:JP7173313B2
,2022-11-16
[6]
信号測定装置および信号測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2008075702A1
,2010-04-15
[7]
信号測定方法および信号測定装置[ja]
[P].
日本专利
:JP2023516188A
,2023-04-18
[8]
信号測定方法および信号測定装置[ja]
[P].
日本专利
:JP7551763B2
,2024-09-17
[9]
真円度測定装置およびそれを備えた工作機械ならびに測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7301570B2
,2023-07-03
[10]
測定装置および測定方法、ならびに該測定方法を備える素子製造方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5991094B2
,2016-09-14
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