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轨道性能测试仪
被引：0
专利类型：
外观设计
申请号：
CN202530332528.8
申请日：
2025-06-11
公开(公告)号：
CN309701529S
公开(公告)日：
2025-12-26
发明(设计)人：
陈仕健
申请人：
伟凯美（深圳）自动化技术有限公司
申请人地址：
518000 广东省深圳市龙岗区园山街道荷坳社区银荷路62号华丰智谷-园山高科技产业园C栋301
IPC主分类号：
10-04
IPC分类号：
代理机构：
深圳市前瞻聚才专利代理有限公司 441024
代理人：
李鸿超
法律状态：
授权
国省代码：
广东省
深圳市
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2025-12-26 | 授权 | 授权 |