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一种光学元件激光损伤增长阈值的测试装置及方法

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202211062433.0
申请日：
2022-08-31
公开(公告)号：
CN115371970B
公开(公告)日：
2025-12-30
发明(设计)人：
单翀 李福建 夏兰 朱翔宇 崔勇 季来林 冯伟 赵晓晖 高妍琦 饶大幸 史建
申请人：
中国工程物理研究院上海激光等离子体研究所
申请人地址：
201899 上海市嘉定区陈家山路1129号
IPC主分类号：
G01M11/02
IPC分类号：
G01N21/17
代理机构：
上海智力专利商标事务所(普通合伙) 31105
代理人：
杜冰云;周涛
法律状态：
授权
国省代码：
上海市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-12-30 授权 授权
共 50 条
[1]
一种光学元件激光损伤增长阈值的测试装置及方法 [P]. 
单翀 ;
李福建 ;
夏兰 ;
朱翔宇 ;
崔勇 ;
季来林 ;
冯伟 ;
赵晓晖 ;
高妍琦 ;
饶大幸 ;
史建 .
中国专利 :CN115371970A ,2022-11-22
[2]
薄膜及光学元件激光损伤阈值组合测试装置 [P]. 
苏俊宏 ;
徐均琪 ;
梁海锋 ;
杨利红 ;
惠迎雪 ;
杭凌侠 ;
朱昌 .
中国专利 :CN201622245U ,2010-11-03
[3]
薄膜及光学元件激光损伤阈值组合测试装置及测试方法 [P]. 
苏俊宏 ;
徐均琪 ;
梁海锋 ;
杨利红 ;
惠迎雪 ;
杭凌侠 ;
朱昌 .
中国专利 :CN101718712B ,2010-06-02
[4]
光斑生成装置、光学元件激光损伤阈值测试装置及方法 [P]. 
朱玲琳 ;
曾爱军 ;
黄惠杰 .
中国专利 :CN115615672B ,2024-02-06
[5]
光斑生成装置、光学元件激光损伤阈值测试装置及方法 [P]. 
朱玲琳 ;
曾爱军 ;
黄惠杰 .
中国专利 :CN115615672A ,2023-01-17
[6]
一种光学元件后表面激光损伤阈值的测试装置及测试方法 [P]. 
单翀 ;
夏兰 ;
冯伟 ;
李福建 ;
赵晓晖 ;
饶大幸 ;
崔勇 ;
季来林 ;
高妍琦 ;
赵元安 ;
刘晓凤 .
中国专利 :CN114486190A ,2022-05-13
[7]
一种光学元件后表面激光损伤阈值的测试装置及测试方法 [P]. 
单翀 ;
夏兰 ;
冯伟 ;
李福建 ;
赵晓晖 ;
饶大幸 ;
崔勇 ;
季来林 ;
高妍琦 ;
赵元安 ;
刘晓凤 .
中国专利 :CN114486190B ,2024-07-16
[8]
高温环境下光学元件激光损伤阈值测试装置 [P]. 
齐红基 ;
王虎 ;
崔岩岩 ;
胡国行 ;
王斌 ;
刘有臣 ;
易葵 .
中国专利 :CN204405299U ,2015-06-17
[9]
高温环境下光学元件激光损伤阈值测试装置和测试方法 [P]. 
齐红基 ;
王虎 ;
崔岩岩 ;
胡国行 ;
王斌 ;
刘有臣 ;
易葵 .
中国专利 :CN104634539B ,2015-05-20
[10]
一种元件深紫外激光损伤阈值测试装置及方法 [P]. 
苏良碧 ;
单翀 ;
姜大朋 ;
寇华敏 ;
吴庆辉 ;
张中晗 ;
刘荣荣 ;
韩平 ;
薛艳艳 ;
方立志 .
中国专利 :CN120721618B ,2025-11-07
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