触控延时测试系统、方法、存储介质和电子设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202310849509.2

申请日：

2023-07-11

公开(公告)号：

CN119311484B

公开(公告)日：

2025-12-16

发明(设计)人：

范伟杰

申请人：

广州视源电子科技股份有限公司广州视睿电子科技有限公司

申请人地址：

510530 广东省广州市黄埔区云埔四路6号

IPC主分类号：

G06F11/22

IPC分类号：

G06F3/041

代理机构：

广州骏思知识产权代理有限公司 44425

代理人：

叶琼园

法律状态：

授权

国省代码：

广东省广州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-12-16	授权	授权
2025-02-07	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/22申请日:20230711
2025-01-14	公开	公开

共 50 条

[1]

触控延时测试系统、方法、存储介质和电子设备 [P].

范伟杰 .

中国专利 :CN119311484A ,2025-01-14

[2]

触控位置预测方法、装置、触控设备、电子设备和存储介质 [P].

梁嘉骏 ;

陈可卿 .

中国专利 :CN120469592A ,2025-08-12

[3]

触控方法、触控设备、触控笔、电子设备及存储介质 [P].

赵演 ;

张永贤 ;

杨自旺 .

中国专利 :CN120610634A ,2025-09-09

[4]

延时测试方法、延时检测设备、电子设备及存储介质 [P].

杨力林 ;

张本好 ;

袁逸钊 ;

蒋坤君 ;

陈元恺 ;

汪镇波 .

中国专利 :CN119105921A ,2024-12-10

[5]

延时测试方法、延时检测设备、电子设备及存储介质 [P].

杨力林 ;

张本好 ;

袁逸钊 ;

蒋坤君 ;

陈元恺 ;

汪镇波 .

中国专利 :CN119105921B ,2025-06-24

[6]

触控方法、电子设备及存储介质 [P].

卢正鎏 .

中国专利 :CN107678674A ,2018-02-09

[7]

测试方法和测试系统、电子设备、存储介质 [P].

黄雅楠 ;

张翔 ;

刘华洲 ;

许雷 .

中国专利 :CN115061907A ,2022-09-16

[8]

触控方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

吴仓志 ;

郑智仁 .

中国专利 :CN113867517A ,2021-12-31

[9]

触控方法和装置、电子设备、存储介质 [P].

邹佳亮 .

中国专利 :CN119690260A ,2025-03-25

[10]

投影式触控方法、系统、电子设备和存储介质 [P].

谭飞超 .

中国专利 :CN116107455B ,2025-09-26

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