一种电子元器件检测设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202511701930.4

申请日：

2025-11-19

公开(公告)号：

CN121178474A

公开(公告)日：

2025-12-23

发明(设计)人：

高安湖

申请人：

北京中旗方凯科技有限公司

申请人地址：

100000 北京市丰台区海鹰路6号院26号楼3层3236

IPC主分类号：

B07C5/344

IPC分类号：

B07C5/02 B07C5/36

代理机构：

深圳市洪荒之力专利代理有限公司 44541

代理人：

刘真

法律状态：

公开

国省代码：

北京市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-12-23	公开	公开

共 50 条

[1]

一种电子元器件检测设备 [P].

朱永亮 .

中国专利 :CN110455245A ,2019-11-15

[2]

一种电子元器件检测设备 [P].

苏红卫 .

中国专利 :CN120446547A ,2025-08-08

[3]

一种电子元器件实验检测设备 [P].

李鑫 .

中国专利 :CN117538580A ,2024-02-09

[4]

一种电子元器件检测设备 [P].

廖进 .

中国专利 :CN117602342A ,2024-02-27

[5]

一种电子元器件检测设备 [P].

夏彦婷 ;

王茜 ;

张林 ;

郭挺 .

中国专利 :CN119354983A ,2025-01-24

[6]

一种电子元器件检测设备 [P].

左春明 ;

廖守领 ;

韩水彬 .

中国专利 :CN117590222A ,2024-02-23

[7]

一种电子元器件外观缺陷检测设备 [P].

乔磊 ;

麻栋天 .

中国专利 :CN215297106U ,2021-12-24

[8]

一种电子元器件检测设备和电子元器件检测方法 [P].

邹玮 .

中国专利 :CN117862041B ,2024-07-23

[9]

一种电子元器件检测设备和电子元器件检测方法 [P].

邹玮 .

中国专利 :CN117862041A ,2024-04-12

[10]

一种陶瓷电子元器件加工用检测设备 [P].

张志高 ;

蒋建毅 .

中国专利 :CN120651849A ,2025-09-16

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