插损测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202422566491.8

申请日：

2024-10-23

公开(公告)号：

CN223679274U

公开(公告)日：

2025-12-16

发明(设计)人：

黄思思周云雷李俊杰柴学进

申请人：

广州兴森半导体有限公司

申请人地址：

510000 广东省广州市黄埔区知识城积安路61号

IPC主分类号：

G01R31/00

IPC分类号：

G01R1/04

代理机构：

广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205

代理人：

彭菊凤

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-12-16	授权	授权

共 50 条

[1]

磁损测试装置 [P].

陶昆 ;

陈天泽 ;

姚仁贵 ;

方浩 ;

黄德华 .

中国专利 :CN210690794U ,2020-06-05

[2]

一种插损、回损、波长相关损耗测试装置 [P].

王新 ;

张传彬 ;

魏德亮 ;

周日凯 .

中国专利 :CN204612901U ,2015-09-02

[3]

一种插损、回损、波长相关损耗测试装置 [P].

王新 ;

张传彬 ;

魏德亮 ;

周日凯 .

中国专利 :CN204615829U ,2015-09-02

[4]

光纤氢损测试装置 [P].

沈小平 ;

石碧波 ;

王樯 ;

孙勤良 ;

朱号昊 ;

黄志杰 .

中国专利 :CN209559467U ,2019-10-29

[5]

线损测试装置 [P].

钟庆亮 ;

李蔺格 ;

孙焕腾 ;

柯妮 ;

张意明 .

中国专利 :CN118465322A ,2024-08-09

[6]

高电压介损测试装置 [P].

蔡国清 ;

黄雄涛 ;

陈世光 .

中国专利 :CN202794342U ,2013-03-13

[7]

测试插箱和测试装置 [P].

孙成思 ;

何瀚 ;

王灿 ;

徐永刚 ;

张鑫 .

中国专利 :CN221841152U ,2024-10-15

[8]

一种压损测试装置 [P].

黄家政 ;

赵立康 ;

梁东红 .

中国专利 :CN213397474U ,2021-06-08

[9]

一种压损测试装置 [P].

陈华荣 ;

林海峰 ;

陈瑞金 ;

黄小亮 ;

王新仕 ;

陈丹华 .

中国专利 :CN221173850U ,2024-06-18

[10]

一种插回损测试装置 [P].

郭继明 ;

庞发如 ;

徐文金 .

中国专利 :CN211247413U ,2020-08-14

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