物理层链路响应时间测量方法、电子设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202511736877.1

申请日：

2025-11-25

公开(公告)号：

CN121217613A

公开(公告)日：

2025-12-26

发明(设计)人：

李光智原顺王大志

申请人：

广东匠芯创科技有限公司

申请人地址：

519000 广东省珠海市横琴新区环岛北路2515号2单元1901办公

IPC主分类号：

H04L43/08

IPC分类号：

G06F11/34 G06F1/24 G06F11/30

代理机构：

广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205

代理人：

麦铭锋

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-12-26	公开	公开

共 50 条

[1]

响应时间测量方法、设备、系统及存储介质 [P].

曾福华 .

中国专利 :CN113301172B ,2021-08-24

[2]

距离测量方法、电子设备及存储介质 [P].

潘武 ;

杨增启 ;

隋小波 ;

吴惠敏 .

中国专利 :CN114838702A ,2022-08-02

[3]

距离测量方法、电子设备及存储介质 [P].

潘武 ;

杨增启 ;

隋小波 ;

吴惠敏 .

中国专利 :CN114838702B ,2024-08-09

[4]

时间精度测量方法、电子设备及存储介质 [P].

吴冬升 ;

欧阳航 ;

杨杰 ;

曾少旭 ;

蒋剑 .

中国专利 :CN121125969A ,2025-12-12

[5]

物理层芯片链路质量检测方法、装置和电子设备 [P].

胡月华 ;

郭宇 .

中国专利 :CN120785441A ,2025-10-14

[6]

响应时间阈值的确定方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

李东 ;

尤康仁 .

中国专利 :CN117453443A ,2024-01-26

[7]

业务命令响应时间控制方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

刘凤刚 ;

路明远 ;

周春法 ;

姜璐 ;

张希伟 ;

梁文俊 .

中国专利 :CN120653382A ,2025-09-16

[8]

性能测量方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

齐文 ;

王恒 ;

夏旭 ;

赵嵩 .

中国专利 :CN120343609A ,2025-07-18

[9]

小区测量方法、小区测量装置、存储介质及电子设备 [P].

董道波 .

中国专利 :CN118921676A ,2024-11-08

[10]

一种无线链路测量方法、电子设备及存储介质 [P].

李海涛 ;

胡奕 .

中国专利 :CN115299092B ,2024-07-30

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