一种用于低电阻率材料的电阻率测试装置和测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202511512217.5

申请日：

2025-10-22

公开(公告)号：

CN121208445A

公开(公告)日：

2025-12-26

发明(设计)人：

梅青松彭宇琦陈子豪廖凌祎谭媛媛柏鹭飞罗旭王欣璐

申请人：

武汉大学

申请人地址：

430072 湖北省武汉市武昌区八一路299号

IPC主分类号：

G01R27/08

IPC分类号：

G01R1/28

代理机构：

南京纵横知识产权代理有限公司 32224

代理人：

湛爽

法律状态：

公开

国省代码：

湖北省武汉市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-12-26	公开	公开

共 50 条

[1]

用于电阻率测试的测试箱及电阻率测试系统 [P].

王旭日 ;

刘静 ;

吴江雪 ;

孙洋洋 ;

杨红新 .

中国专利 :CN216747891U ,2022-06-14

[2]

电阻率测试装置 [P].

蔡雪松 ;

相唐喜 .

中国专利 :CN216248145U ,2022-04-08

[3]

粉尘电阻率测试装置 [P].

钟圣俊 ;

苗楠 ;

蒋关宇 ;

王健 ;

钟明君 ;

翟晓鸣 .

中国专利 :CN215060811U ,2021-12-07

[4]

体积电阻率测试装置 [P].

蒋春晨 ;

申娴 ;

曹季强 ;

方佳凯 ;

藏文龙 ;

宋蒋洋 .

中国专利 :CN223513277U ,2025-11-04

[5]

一种导电浆料电阻率测试装置及导电浆料电阻率测试方法 [P].

陈欣 ;

董贺存 ;

陈玉 ;

王益民 .

中国专利 :CN118962256A ,2024-11-15

[6]

粉末电阻率测试装置 [P].

姚洛春 ;

李超 ;

马盼东 ;

余诗花 .

中国专利 :CN102680793A ,2012-09-19

[7]

体积电阻率测试装置 [P].

王永泽 ;

陈俊玉 ;

冉硕 ;

田思 ;

王云芳 ;

郑炯 ;

李学健 ;

赵松林 ;

陈炯亮 .

中国专利 :CN220754794U ,2024-04-09

[8]

硅片真实电阻率的测试方法和电阻率测试设备 [P].

陈鑫洪 ;

宗贝贝 ;

许文理 ;

王永谦 ;

陈刚 .

中国专利 :CN117783671A ,2024-03-29

[9]

电阻率测试夹具 [P].

刁庶 ;

何传玺 ;

淳少恒 .

中国专利 :CN220508979U ,2024-02-20

[10]

粉末材料用电阻率测试装置 [P].

蔡雪松 ;

相唐喜 .

中国专利 :CN216411404U ,2022-04-29

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