测试系统和测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202511352945.4

申请日：

2025-09-22

公开(公告)号：

CN121209466A

公开(公告)日：

2025-12-26

发明(设计)人：

顾佳科沈孔德黄东洲

申请人：

宁波得力胶粘制品有限公司

申请人地址：

315600 浙江省宁波市宁海县桃源街道金桥一路10号

IPC主分类号：

G05B23/02

IPC分类号：

G01R31/28 G01R1/04 G01R1/02

代理机构：

北京品源专利代理有限公司 11332

代理人：

康欢欢

法律状态：

公开

国省代码：

浙江省宁波市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-12-26	公开	公开

共 50 条

[1]

测试系统和测试方法 [P].

夏旌钧 ;

沈孔德 ;

黄东洲 .

中国专利 :CN121209465A ,2025-12-26

[2]

接口测试方法、测试系统和测试夹具 [P].

雷代军 ;

张东峰 ;

张天瑜 ;

张建国 .

中国专利 :CN109031091B ,2018-12-18

[3]

测试装置、测试方法和测试系统 [P].

徐张坤 ;

韩统亮 .

中国专利 :CN118398067A ,2024-07-26

[4]

测试系统及测试方法 [P].

谢果 ;

杨治宇 ;

朱仁强 ;

张青青 ;

陈国川 .

中国专利 :CN118226215A ,2024-06-21

[5]

实装电路板电源电路测试装置、测试系统和方法 [P].

廖玉琪 ;

唐涛 ;

邹载文 .

中国专利 :CN113495208A ,2021-10-12

[6]

信号测试夹具和信号测试系统 [P].

刘毅 ;

柴子杰 ;

王福彪 ;

曹双林 .

中国专利 :CN117667800A ,2024-03-08

[7]

IC芯片测试系统和测试方法 [P].

陈洲 ;

翟冠杰 ;

程君健 .

中国专利 :CN119471329B ,2025-08-19

[8]

温升测试系统和测试方法 [P].

鲁军建 ;

凌勇 ;

张佳 ;

樊宇博 ;

康扬 ;

刘爽 .

中国专利 :CN111044817A ,2020-04-21

[9]

IC芯片测试系统和测试方法 [P].

陈洲 ;

翟冠杰 ;

程君健 .

中国专利 :CN119471329A ,2025-02-18

[10]

测试结构和测试系统 [P].

杨宏琳 .

中国专利 :CN112147543A ,2020-12-29

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