探针卡和测试设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410839870.1

申请日：

2024-06-26

公开(公告)号：

CN121208403A

公开(公告)日：

2025-12-26

发明(设计)人：

金铉钟千门叫徐永恩

申请人：

JCET星科金朋韩国有限公司

申请人地址：

韩国仁川

IPC主分类号：

G01R1/073

IPC分类号：

G01R1/04 G01R31/26

代理机构：

北京市君合律师事务所 11517

代理人：

毛健;杜小锋

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-12-26	公开	公开

共 50 条

[1]

测试探针卡和测试设备 [P].

吕娅 ;

何骁伟 ;

顾向前 ;

齐飞 .

中国专利 :CN117330800A ,2024-01-02

[2]

探针卡和测试设备 [P].

张梅红 ;

刘浪 ;

周翔 .

中国专利 :CN120831506A ,2025-10-24

[3]

探针卡和具有探针卡的测试设备 [P].

安奎重 .

韩国专利 :CN113156173B ,2024-09-20

[4]

探针卡和具有探针卡的测试设备 [P].

安奎重 .

中国专利 :CN113156173A ,2021-07-23

[5]

探针卡测试设备的测试机构以及探针卡测试设备 [P].

蒋文德 ;

张翼阳 ;

娄兆一 .

中国专利 :CN118731432B ,2024-11-08

[6]

探针卡测试设备的测试机构以及探针卡测试设备 [P].

蒋文德 ;

张翼阳 ;

娄兆一 .

中国专利 :CN118731432A ,2024-10-01

[7]

探针测试装置、探针测试系统和探针卡 [P].

花井寿佳 ;

谷村政明 ;

铃木浩司 .

日本专利 :CN120044280A ,2025-05-27

[8]

探针卡及测试设备 [P].

牛刚 .

中国专利 :CN117471137A ,2024-01-30

[9]

探针头、探针卡、测试设备及由测试设备进行测试的电子装置 [P].

杨金田 ;

陈宥豪 ;

杨惠彬 ;

林信宏 .

中国专利 :CN120195435A ,2025-06-24

[10]

探针卡测试系统和探针卡测试方法 [P].

金鹤龙 .

韩国专利 :CN119290907A ,2025-01-10

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