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物理量测定装置
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202110317677.8
申请日
:
2021-03-25
公开(公告)号
:
CN113447195B
公开(公告)日
:
2025-12-23
发明(设计)人
:
川濑信亮
篑河原悠里
申请人
:
长野计器株式会社
申请人地址
:
日本东京都
IPC主分类号
:
G01L19/14
IPC分类号
:
代理机构
:
中国专利代理(香港)有限公司 72001
代理人
:
张泽洲;张一舟
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-12-23
授权
授权
共 50 条
[1]
物理量测定装置、物理量测定方法
[P].
大岛明浩
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大岛明浩
;
浓野友人
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浓野友人
.
中国专利
:CN103427828B
,2013-12-04
[2]
物理量测定装置
[P].
矶谷有毅
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矶谷有毅
;
星加浩昭
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星加浩昭
.
中国专利
:CN113039412A
,2021-06-25
[3]
物理量测定装置
[P].
余语孝之
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余语孝之
;
法丁法哈那·宾提哈里旦
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法丁法哈那·宾提哈里旦
;
阿部博幸
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阿部博幸
;
池尾聪
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池尾聪
;
千叶雄太
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千叶雄太
.
中国专利
:CN113167620A
,2021-07-23
[4]
物理量测定装置
[P].
阿部裕佑
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阿部裕佑
;
远山秀司
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远山秀司
;
关谷晴彦
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关谷晴彦
.
中国专利
:CN107014557A
,2017-08-04
[5]
物理量测定装置
[P].
合田祐司
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机构:
旭化成微电子株式会社
旭化成微电子株式会社
合田祐司
.
日本专利
:CN119156890A
,2024-12-17
[6]
物理量测定装置
[P].
山田幸光
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山田幸光
.
中国专利
:CN109716070B
,2019-05-03
[7]
物理量测定装置
[P].
横井昭二
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横井昭二
;
小林祥宏
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小林祥宏
;
高桥正行
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高桥正行
.
中国专利
:CN1764823A
,2006-04-26
[8]
物理量测定装置
[P].
簣河原悠里
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簣河原悠里
;
田中康久
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田中康久
;
鸟羽博之
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鸟羽博之
.
中国专利
:CN110646025A
,2020-01-03
[9]
物理量测定装置
[P].
川濑信亮
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川濑信亮
;
篑河原悠里
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篑河原悠里
.
中国专利
:CN113447195A
,2021-09-28
[10]
物理量测定装置
[P].
余语孝之
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机构:
日立安斯泰莫株式会社
日立安斯泰莫株式会社
余语孝之
;
法丁法哈那·宾提哈里旦
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机构:
日立安斯泰莫株式会社
日立安斯泰莫株式会社
法丁法哈那·宾提哈里旦
;
阿部博幸
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机构:
日立安斯泰莫株式会社
日立安斯泰莫株式会社
阿部博幸
;
池尾聪
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机构:
日立安斯泰莫株式会社
日立安斯泰莫株式会社
池尾聪
;
千叶雄太
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机构:
日立安斯泰莫株式会社
日立安斯泰莫株式会社
千叶雄太
.
日本专利
:CN113167620B
,2024-03-19
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