The measurement of x-ray intensities as functions of voltage, up to 180 kv

被引：8

作者：

Webster, DL ^{[1
]}

Hansen, WW ^{[1
]}

Duveneck, FB ^{[1
]}

机构：

[1] Stanford Univ, Stanford, CA USA

来源：

REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS | 1932年 / 3卷 / 12期

关键词：

D O I：

10.1063/1.1748889

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

引用

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页码：729 / 749

页数：21

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共 11 条

[11]

Wagner E, 1922, PHYS Z, V23, P503