DETERMINATION OF ATOMIC POSITIONS USING ELECTRON NANODIFFRACTION PATTERNS FROM OVERLAPPING REGIONS - SI[110]

被引：26

作者：

KONNERT, J ^{[1
]}

DANTONIO, P ^{[1
]}

COWLEY, JM ^{[1
]}

HIGGS, A ^{[1
]}

OU, HJ ^{[1
]}

机构：

[1] ARIZONA STATE UNIV,DEPT PHYS,TEMPE,AZ 85281

来源：

关键词：

D O I：

10.1016/0304-3991(89)90068-5

中图分类号：

TH742 [显微镜];

学科分类号：

摘要：

引用

页码：371 / 384

页数：14

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