CHEMICAL MEASUREMENTS OF RADIATION-DAMAGE IN ORGANIC-SAMPLES AT AND BELOW ROOM-TEMPERATURE

被引:46
作者
EGERTON, RF
机构
关键词
D O I
10.1016/0304-3991(80)90051-0
中图分类号
TH742 [显微镜];
学科分类号
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页数:3
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