A LOW ENERGY SCANNED ELECTRON BEAM POTENTIAL PROBE

被引：8

作者：

FLEMMING, JP

机构：

来源：

JOURNAL OF PHYSICS E-SCIENTIFIC INSTRUMENTS | 1968年 / 1卷 / 12期

关键词：

D O I：

10.1088/0022-3735/1/12/309

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

引用

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页码：1179 / &

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