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EFFICIENCY CALIBRATION OF SEMICONDUCTOR X-RAY DETECTORS

被引：24
作者：
CAMPBELL, JL
OBRIEN, P
MCNELLES, LA
机构：
来源：
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS | 1971年 / 92卷 / 02期
关键词：
D O I：
10.1016/0029-554X(71)90204-7
中图分类号：
TH7 [仪器、仪表];
学科分类号：
0804 ; 080401 ; 081102 ;
摘要：
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页码：269 / &
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