INJECTED CURRENT CARRIER TRANSPORT IN A SEMI-INFINITE SEMICONDUCTOR AND THE DETERMINATION OF LIFETIMES AND SURFACE RECOMBINATION VELOCITIES

被引:231
作者
VANROOSBROECK, W
机构
关键词
D O I
10.1063/1.1722002
中图分类号
O59 [应用物理学];
学科分类号
摘要
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页码:380 / 391
页数:12
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