WHITE-LIGHT PROJECTION TECHNIQUE FOR VIEWING DOUBLE-EXPOSURE SPECKLE INTERFEROGRAMS

被引:7
作者
JONES, R [1 ]
LEENDERTZ, JA [1 ]
机构
[1] UNIV LOUGHBOROUGH, DEPT MECH ENGN, LOUGHBOROUGH, LEICESTERSHIRE, ENGLAND
来源
JOURNAL OF PHYSICS E-SCIENTIFIC INSTRUMENTS | 1974年 / 7卷 / 08期
关键词
D O I
10.1088/0022-3735/7/8/010
中图分类号
TH7 [仪器、仪表];
学科分类号
0804 ; 080401 ; 081102 ;
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共 2 条
  • [1] BUTTERS JN, 1971, J PHYS E, V4, P272
  • [2] ELASTIC-CONSTANT AND STRAIN MEASUREMENTS USING A THREE BEAM SPECKLE PATTERN INTERFEROMETER
    JONES, R
    LEENDERTZ, JA
    [J]. JOURNAL OF PHYSICS E-SCIENTIFIC INSTRUMENTS, 1974, 7 (08): : 653 - 657