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THE SI(111)-PD INTERFACE - SPECTROSCOPIC EVIDENCE OF CHEMICAL PROCESSES AT LIQUID-NITROGEN TEMPERATURE
被引:24
作者
:
ABBATI, I
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0
机构:
UNIV MODENA,IST FIS,I-41100 MODENA,ITALY
UNIV MODENA,IST FIS,I-41100 MODENA,ITALY
ABBATI, I
[
1
]
BRAICOVICH, L
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UNIV MODENA,IST FIS,I-41100 MODENA,ITALY
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BRAICOVICH, L
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DEMICHELIS, B
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UNIV MODENA,IST FIS,I-41100 MODENA,ITALY
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DEMICHELIS, B
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]
PENNINO, UD
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UNIV MODENA,IST FIS,I-41100 MODENA,ITALY
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PENNINO, UD
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1
]
机构
:
[1]
UNIV MODENA,IST FIS,I-41100 MODENA,ITALY
来源
:
JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY
|
1980年
/ 17卷
/ 06期
关键词
:
Compendex;
D O I
:
10.1116/1.570659
中图分类号
:
O59 [应用物理学];
学科分类号
:
摘要
:
SEMICONDUCTING SILICON
引用
收藏
页码:1303 / 1305
页数:3
相关论文
共 11 条
[11]
APPLICATION OF AUGER-ELECTRON SPECTROSCOPY TO STUDIES OF SILICON-SILICIDE INTERFACE
ROTH, JA
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0
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0
机构:
UNIV SO CALIF,DEPT MAT SCI,LOS ANGELES,CA 90007
ROTH, JA
CROWELL, CR
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机构:
UNIV SO CALIF,DEPT MAT SCI,LOS ANGELES,CA 90007
CROWELL, CR
[J].
JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY,
1978,
15
(04):
: 1317
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[11]
APPLICATION OF AUGER-ELECTRON SPECTROSCOPY TO STUDIES OF SILICON-SILICIDE INTERFACE
ROTH, JA
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机构:
UNIV SO CALIF,DEPT MAT SCI,LOS ANGELES,CA 90007
ROTH, JA
CROWELL, CR
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机构:
UNIV SO CALIF,DEPT MAT SCI,LOS ANGELES,CA 90007
CROWELL, CR
[J].
JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY,
1978,
15
(04):
: 1317
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