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X-RAY DIFFRACTION PATTERNS FOR THE IDENTIFICATION OF SURFACE-ACTIVE AGENTS
被引:7
作者
:
BOYD, TF
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0
BOYD, TF
MACQUEEN, JM
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MACQUEEN, JM
STACY, I
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STACY, I
机构
:
来源
:
ANALYTICAL CHEMISTRY
|
1949年
/ 21卷
/ 06期
关键词
:
D O I
:
10.1021/ac60030a027
中图分类号
:
O65 [分析化学];
学科分类号
:
070302 ;
081704 ;
摘要
:
引用
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页码:731 / 732
页数:2
相关论文
共 2 条
[1]
Chemical analysis by x-ray diffraction - Classification and use of x-ray diffraction patterns
Hanawalt, JD
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机构:
Dow Chem Co, Midland, MI USA
Dow Chem Co, Midland, MI USA
Hanawalt, JD
Rinn, HW
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机构:
Dow Chem Co, Midland, MI USA
Dow Chem Co, Midland, MI USA
Rinn, HW
Frevel, LK
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0
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机构:
Dow Chem Co, Midland, MI USA
Dow Chem Co, Midland, MI USA
Frevel, LK
[J].
INDUSTRIAL AND ENGINEERING CHEMISTRY-ANALYTICAL EDITION,
1938,
10
: 0457
-
0512
[2]
1947, 51S47INT BUR SHIPS N
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共 2 条
[1]
Chemical analysis by x-ray diffraction - Classification and use of x-ray diffraction patterns
Hanawalt, JD
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机构:
Dow Chem Co, Midland, MI USA
Dow Chem Co, Midland, MI USA
Hanawalt, JD
Rinn, HW
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机构:
Dow Chem Co, Midland, MI USA
Dow Chem Co, Midland, MI USA
Rinn, HW
Frevel, LK
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机构:
Dow Chem Co, Midland, MI USA
Dow Chem Co, Midland, MI USA
Frevel, LK
[J].
INDUSTRIAL AND ENGINEERING CHEMISTRY-ANALYTICAL EDITION,
1938,
10
: 0457
-
0512
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1947, 51S47INT BUR SHIPS N
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