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HIGH-RATE GROWTH AT LOW-TEMPERATURES BY FREE-JET MOLECULAR-FLOW - SURFACE-REACTION FILM-FORMATION TECHNOLOGY
被引:25
作者
:
OHMI, T
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机构:
TOKYO ELECTRON LTD,MIDORI KU,YOKOHAMA 226,JAPAN
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OHMI, T
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]
MORITA, M
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TOKYO ELECTRON LTD,MIDORI KU,YOKOHAMA 226,JAPAN
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MORITA, M
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]
KOCHI, T
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TOKYO ELECTRON LTD,MIDORI KU,YOKOHAMA 226,JAPAN
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KOCHI, T
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KOSUGI, M
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KUMAGAI, H
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KUMAGAI, H
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]
ITOH, M
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TOKYO ELECTRON LTD,MIDORI KU,YOKOHAMA 226,JAPAN
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ITOH, M
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]
机构
:
[1]
TOKYO ELECTRON LTD,MIDORI KU,YOKOHAMA 226,JAPAN
来源
:
APPLIED PHYSICS LETTERS
|
1988年
/ 52卷
/ 14期
关键词
:
D O I
:
10.1063/1.99196
中图分类号
:
O59 [应用物理学];
学科分类号
:
摘要
:
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[1]
A STAGNANT LAYER MODEL FOR EPITAXIAL GROWTH OF SILICON FROM SILANE IN A HORIZONTAL REACTOR
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PEEK, HL
.
JOURNAL OF THE ELECTROCHEMICAL SOCIETY,
1970,
117
(07)
:925
-+
[2]
OHMI T, 1987, IN PRESS 1ST P INT S
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共 2 条
[1]
A STAGNANT LAYER MODEL FOR EPITAXIAL GROWTH OF SILICON FROM SILANE IN A HORIZONTAL REACTOR
[J].
EVERSTEYN, FC
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EVERSTEYN, FC
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SEVERIN, PJW
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PEEK, HL
.
JOURNAL OF THE ELECTROCHEMICAL SOCIETY,
1970,
117
(07)
:925
-+
[2]
OHMI T, 1987, IN PRESS 1ST P INT S
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