COMPARISON OF STEP AND RAMP VOLTAGE BREAKDOWN TESTS IN ALUMINUM-OXIDE FILMS

被引：6

作者：

ALBERT, M

SOLOMON, P

KLEIN, N

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1016/0040-6090(72)90178-2

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

引用

页码：221 / &

共 7 条

[1]

ALBERT M, TO BE PUBLISHED

BUDENSTEIN, PP ;

HAYES, PJ ;

SMITH, JL ;

SMITH, WB .

JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY, 1969, 6 (02) :289-+

KAWAMURA, H ;

OHKURA, H ;

KIKUCHI, T .

[4]

KLEIN N, 1965, P S PHYS FAILURE ELE, V3, P315

[5]

KLEIN N, 1969, ADVAN ELECTRON ELECT, V26, P309

[6] THE ELECTRIC STRENGTH OF DIELECTRIC FILMS [J].

PLESSNER, KW .

PROCEEDINGS OF THE PHYSICAL SOCIETY OF LONDON, 1948, 60 (339) :243-+

SMITH, JL ;

BUDENSTEIN, PP .