DUAL-MODE REFLECTOMETER FOR MEASURING MICROWAVE MAGNETIC KERR EFFECT IN SEMICONDUCTORS

被引：9

作者：

HAUGE, PS

CHAMPLIN, KS

机构：

来源：

IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES | 1967年 / MT15卷 / 07期

关键词：

D O I：

10.1109/TMTT.1967.1126488

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

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页码：406 / &

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共 13 条

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