ZN-DIFFUSION-INDUCED DAMAGE IN INSB DIODES

被引:11
作者
MOZZI, RL
LAVINE, JM
机构
关键词
D O I
10.1063/1.1658334
中图分类号
O59 [应用物理学];
学科分类号
摘要
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页码:280 / &
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