BEAM DEVIATION METHOD AS A DIAGNOSTIC TOOL FOR PLASMA FOCUS

被引：21

作者：

SCHMIDT, H

RUCKLE, B

机构：

来源：

APPLIED OPTICS | 1978年 / 17卷 / 08期

关键词：

D O I：

10.1364/AO.17.001275

中图分类号：

O43 [光学];

学科分类号：

070207 ; 0803 ;

摘要：

引用

页码：1275 / 1279

页数：5

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