IMPROVED TUNING OF ION MICROPROBES USING SCANDIUM THIN-FILM TARGETS

被引：6

作者：

GUTHRIE, JW

BLEWER, RS

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1063/1.1685715

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

引用

页码：654 / &

共 8 条

[1]

Andersen CA., 1970, INT J MASS SPECTROM, V3, P413, DOI [10.1016/0020-7381(70)80001-8, DOI 10.1016/0020-7381(70)80001-8]

[2]

BLEWER RS, UNPUBLISHED

[3]

EHLERS KW, 1962, 9 T NAT VAC S AM VAC, P519

[4] ANALYSIS OF THIN FILMS BY ION MICROPROBE MASS SPECTROMETRY [J].

EVANS, CA ;

PEMSLER, JP .

[5] ION MICROPROBE MASS ANALYZER [J].

LIEBL, H .

[6]

LIEBL H, 1971, INT J MASS SPECTROM, V6, P401

PIERCE, TB ;

PECK, PF ;

CUFF, DRA .

NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS, 1969, 67 (01) :1-&

[8]

WHATLEY TA, 1971, 6 INT C XRAY OPT MIC