MODEL FOR FAILURE RATE CURVES

被引：5

作者：

BOSCH, G

机构：

来源：

MICROELECTRONICS AND RELIABILITY | 1979年 / 19卷 / 04期

关键词：

D O I：

10.1016/0026-2714(79)90156-2

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

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页码：371 / 375

页数：5

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[1] FAILURE-RATE AS A FUNCTION OF TIME DUE TO LOG-NORMAL LIFE DISTRIBUTION(S) OF WEAK PARTS [J].

HALLBERG, O .

MICROELECTRONICS AND RELIABILITY, 1977, 16 (02) :155-158