APPLICATION OF X-RAY-METHODS FOR THE INVESTIGATION OF STRUCTURAL EFFECTS CAUSED BY HIGH-ENERGY ARGON IONS BOMBARDMENT IN SILICON CRYSTAL

被引：4

作者：

AULEYTNER, J

FURMANIK, Z

GORECKA, J

机构：

来源：

CRYSTAL RESEARCH AND TECHNOLOGY | 1987年 / 22卷 / 04期

关键词：

D O I：

10.1002/crat.2170220428

中图分类号：

O7 [晶体学];

学科分类号：

0702 ; 070205 ; 0703 ; 080501 ;

摘要：

引用

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页码：K59 / K62

页数：4

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共 4 条

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