APPLICATION OF X-RAY TRIPLE-CRYSTAL SPECTROMETER FOR MEASURING RADIUS OF CURVATURE OF BENT SINGLE-CRYSTALS

被引：18

作者：

GODWOD, K

NAGY, AT

REK, Z

机构：

[1] HUNGARIAN ACAD SCI,TECH PHYS RES LAB,BUDAPEST,HUNGARY

[2] POLISH ACAD SCI,INST PHYS,PL-02668 WARSAW,POLAND

来源：

PHYSICA STATUS SOLIDI A-APPLIED RESEARCH | 1976年 / 34卷 / 02期

关键词：

D O I：

10.1002/pssa.2210340235

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

引用

页码：705 / 710

页数：6

共 6 条

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