CONTRIBUTION TO THE DETERMINATION OF TRACES OF BORON IN METALS, SILICON, AND SIO2 BY SPECTROPHOTOMETRY AND EMISSION-SPECTROMETRY WITH PLASMA EXCITATION (CMP, ICP) AFTER DISSOLUTION IN HF AND SEPARATION OF BF3 BY DISTILLATION AND EXTRACTION OF BF4-

被引：37

作者：

GRALLATH, E

TSCHOPEL, P

KOLBLIN, G

STIX, U

TOLG, G

机构：

来源：

FRESENIUS ZEITSCHRIFT FUR ANALYTISCHE CHEMIE | 1980年 / 302卷 / 01期

关键词：

D O I：

10.1007/BF00469761

中图分类号：

O65 [分析化学];

学科分类号：

070302 ; 081704 ;

摘要：

引用

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页码：40 / 51

页数：12

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共 43 条

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WUNSCH G, 1971, HDB ANAL CHEM, V3

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1979, GESELLSCHAFT DTSCH M

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1979, BCR2773 REF EUR GEM

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