METHOD AND SPECTROMETER FOR MEASURING OPTICAL-ABSORPTION IN THIN EPITAXIAL LAYERS

被引：7

作者：

GAL, M ^{[1
]}

NEMETH, K ^{[1
]}

EPPELDAUER, G ^{[1
]}

机构：

[1] HUNGARIAN ACAD SCI,TECH PHYS RES LAB,BUDAPEST,HUNGARY

来源：

JOURNAL OF PHYSICS E-SCIENTIFIC INSTRUMENTS | 1976年 / 9卷 / 06期

关键词：

D O I：

10.1088/0022-3735/9/6/018

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

引用

页码：484 / 487

页数：4

共 4 条

[1] OPTICAL TECHNIQUES USEFUL FOR CHARACTERIZING GAP CRYSTALS [J].

BACHRACH, RZ .

[2] LIGHT-EMITTING DIODES [J].

BERGH, AA ;

DEAN, PJ .

PROCEEDINGS OF THE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS ENGINEERS, 1972, 60 (02) :156-+

JOYCE, WB ;

BACHRACH, RZ ;

DIXON, RW ;

SEALER, DA .

[4]

Pankove J. I., 1971, OPTICAL PROCESSES SE, P107