EXPONENTIAL PROJECTILE CHARGE DEPENDENCE OF AR-K AND NEK-X-RAY PRODUCTION BY FAST, HIGHLY IONIZED ARGON BEAMS IN THIN NEON TARGETS

被引：39

作者：

MOWAT, JR

SELLIN, IA

PEGG, DJ

PETERSON, RS

BROWN, MD

MACDONALD, JR

机构：

[1] UNIV TENNESSEE, KNOXVILLE, TN 37916 USA

[2] KANSAS STATE UNIV, MANHATTAN, KS 66506 USA

[3] OAK RIDGE NATL LAB, OAK RIDGE, TN 37830 USA

来源：

关键词：

D O I：

10.1103/PhysRevLett.30.1289

中图分类号：

O4 [物理学];

学科分类号：

0702 ;

摘要：

引用

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页数：4