THE INFLUENCE OF SECONDARY FLUORESCENCE FROM ELEMENTS ADJACENT TO THE MICROBEAM SPOT ON LOCAL CONCENTRATION DETERMINATION WITH PIXE

被引：6

作者：

HECK, D

机构：

来源：

NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS | 1981年 / 181卷 / 1-3期

关键词：

D O I：

10.1016/0029-554X(81)90595-4

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

引用

页码：135 / 139

页数：5

共 9 条

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