SURFACE REPLICAS FOR ELECTRON MICROSCOPY

被引：8

作者：

THOMASSEN, L

WILLIAMS, RC

WYCKOFF, RWG

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1063/1.1770357

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

引用

页码：155 / 156

页数：2

共 4 条

[1] Fine structure of metallic surfaces with the electron microscope [J].

Heidenreich, RD ;

Peck, VG .

[2]

Schaefer Vincent J., 1943, SCIENCE, V97, P188, DOI 10.1126/science.97.2512.188

[3] Surface replicas for use in the electron microscope [J].

Schaefer, VJ ;

Harker, D .

[4] The thickness of electron microscopic objects [J].

Williams, RC ;

Wyckoff, RWG .