DETERMINATION OF INTERFACE STATES FOR CAF2/SI(111) FROM NEAR-EDGE X-RAY-ABSORPTION MEASUREMENTS - REPLY

被引：5

作者：

HIMPSEL, FJ

KARLSSON, UO

MORAR, JF

RIEGER, D

YARMOFF, JA

机构：

来源：

PHYSICAL REVIEW LETTERS | 1988年 / 60卷 / 02期

关键词：

D O I：

10.1103/PhysRevLett.60.161

中图分类号：

O4 [物理学];

学科分类号：

0702 ;

摘要：

引用

收藏

页码：161 / 161

页数：1

相关论文

共 3 条

[1] DETERMINATION OF INTERFACE STATES FOR CAF2/SI(111) FROM NEAR-EDGE X-RAY-ABSORPTION MEASUREMENTS [J].

HIMPSEL, FJ ;

KARLSSON, UO ;

MORAR, JF ;

RIEGER, D ;

YARMOFF, JA .

PHYSICAL REVIEW LETTERS, 1986, 56 (14) :1497-1500

[2]

HIMPSEL FJ, IN PRESS

[3] ELECTRONIC-STRUCTURE OF THE CAF2/SI(111) INTERFACE [J].

RIEGER, D ;

HIMPSEL, FJ ;

KARLSSON, UO ;

MCFEELY, FR ;

MORAR, JF ;

YARMOFF, JA .

PHYSICAL REVIEW B, 1986, 34 (10) :7295-7306