UNIAXIAL-STRESS MEASUREMENTS ON THE 0.97EV LINE IN IRRADIATED SILICON

被引:31
作者
FOY, CP
DOCARMO, MC
DAVIES, G
LIGHTOWLERS, EC
机构
来源
JOURNAL OF PHYSICS C-SOLID STATE PHYSICS | 1981年 / 14卷 / 01期
关键词
D O I
10.1088/0022-3719/14/1/002
中图分类号
O469 [凝聚态物理学];
学科分类号
070205 ;
摘要
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页码:L7 / L12
页数:6
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