ANALYSIS OF STAINLESS-STEEL SURFACES BY SECONDARY ION MASS SPECTROSCOPY (SIMS)

被引：15

作者：

HUBER, WK ^{[1
]}

LOBACH, E ^{[1
]}

机构：

[1] BALZERS AKTIENGESELL HOCHVAKUUM TECHN & DUNNE SCHICHTEN,BALZERS,LIECHTENSTEIN

来源：

VACUUM | 1972年 / 22卷 / 11期

关键词：

D O I：

10.1016/0042-207X(72)90035-8

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

引用

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页码：605 / 608

页数：4

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