ANALYTICAL FUNCTIONS FOR FITTING PEAKS FROM GE SEMICONDUCTOR-DETECTORS

被引：44

作者：

HELMER, RG

LEE, MA

机构：

来源：

NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS | 1980年 / 178卷 / 2-3期

关键词：

D O I：

10.1016/0029-554X(80)90830-7

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

引用

页码：499 / 512

页数：14

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