THOMAS-FERMI DIELECTRIC SCREENING IN SEMICONDUCTORS

被引:15
作者
CSAVINSZKY, P
机构
来源
PHYSICAL REVIEW B | 1980年 / 21卷 / 02期
关键词
D O I
10.1103/PhysRevB.21.632
中图分类号
T [工业技术];
学科分类号
08 ;
摘要
引用
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页码:632 / 633
页数:2
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共 3 条
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