THOMAS-FERMI DIELECTRIC SCREENING IN SEMICONDUCTORS

被引：15

作者：

CSAVINSZKY, P

机构：

来源：

PHYSICAL REVIEW B | 1980年 / 21卷 / 02期

关键词：

D O I：

10.1103/PhysRevB.21.632

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

引用

页码：632 / 633

页数：2

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